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2022

2-18

透射掃描電子顯微鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏，膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。透射掃描電子顯微鏡的工作原理是：透射電鏡和光學顯微鏡的各透鏡及光路圖基本一致，都是光源經(jīng)過聚光鏡會聚之后照到樣品，光束透過樣品后進入物鏡，由物鏡會聚成像，之后物鏡所成的一次放大像在光鏡中再由物鏡二次放大后進入觀...

2022

2-14

sem掃描電鏡在材料領域的具體應用介紹

sem掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。sem掃描電鏡SEM的原理：能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產生的各種信號。相互作用區(qū)的線性體積：隨原子序數(shù)的增加而減小；隨電子束能量的增加而增加；電子束與樣品的...

2022

2-11

成就客戶 | MaipSCAN&中國石油長城鉆探，驗收工作穩(wěn)步進行

2021年6月中旬，全新一代巖石屬性分析系統(tǒng)MaipSCAN順利落地中國石油長城鉆探工程有限公司，在錄井基地地質檢測中心巖礦掃描室成功安裝調試。設備安裝現(xiàn)場現(xiàn)階段，設備驗收工作穩(wěn)步進行中，長城公司滿懷信心、翹首以待！驗收工作分為重復性、穩(wěn)定性、平行性實驗對比。重復性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，每個樣品重復測量10次；穩(wěn)定性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，在不同時間段分別測量5次。部分測試結果如下：重復性試驗：Sample1，深度3683.50米，重復測量10次穩(wěn)定性試...

2022

1-7

場發(fā)射掃描電鏡的性能特點介紹，真的很全！

場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統(tǒng)，實現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現(xiàn)成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。場發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，F(xiàn)LASH自動執(zhí)行精細調節(jié)工作，只...

2022

1-4

可以實時檢測形貌與元素信息的“鎢燈絲掃描電鏡”

鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實時定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導電樣品進行更真實的能譜元素分析。專為快速分析而設計，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準確執(zhí)行故障分...

2021

12-6

專為快速分析而設計的“賽默飛電子顯微鏡”

賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統(tǒng)能譜會利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進行數(shù)據(jù)處理，因而數(shù)據(jù)獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數(shù)據(jù)所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應脈沖整形技術，確保各種條件下均能獲得可靠數(shù)據(jù)。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分數(shù)據(jù)可靠，且結果中不會出現(xiàn)重疊峰誤判等。專有的陰...

2021

12-3

掃描電鏡顯微鏡在不同行業(yè)中的應用

由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學物質進行非常詳細的分析。它打破了傳統(tǒng)臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。在檢查半導體和微電子器件時，需要靈活選擇和使用操作參數(shù)(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環(huán)境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導致器...

2021

11-12

看看這些內容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？

STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質微觀結構*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質發(fā)生相互作用，可產生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質化學成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM...

2021

11-9

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？

環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。環(huán)境掃描電鏡的應用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物和化工產品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納...

2021

11-5

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？

隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態(tài)金屬離子源及離子引出極、預聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測器、可移動的樣品基座...

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